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技術(shù)文章
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簡(jiǎn)要描述：隨著微處理器的技術(shù)發(fā)展，超聲波無(wú)損檢測(cè)方法已獲得了行業(yè)認(rèn)可，其中超聲波測(cè)厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用，而超聲波硬度計(jì)也在國(guó)外普及。
產(chǎn)品型號(hào)：LAB-H1廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-08-28訪 問(wèn) 量：3346
| 測(cè)試范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV 抗拉強(qiáng)度, MPa | 20 - 70 90 - 450 230 - 940 370 - 1740 |
| 誤差范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV | ± 1 ± 3% ± 3% |
| 外形尺寸, mm | 122x65 x24 |
| 操作溫度° C | -5至+40 |
| 電源 | 2節(jié)AA電池 |
| 持續(xù)工作時(shí)間, 不少于 | 100小時(shí) |
| 主機(jī)重量, kg | 0.9千克 |
| 名稱型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
| 超聲波硬度計(jì) LAB-H1 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波探頭一支 |
| 復(fù)合式硬度計(jì) LAB-H2 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波和里氏兩種探頭 |
| 里氏硬度計(jì) LAB-H3 | 標(biāo)配進(jìn)口里氏探頭一支 |
| 測(cè)試裝置 | 超聲波探頭 | 里氏探頭 |
| 長(zhǎng)度： | 160mm | 140mm |
| 直徑 | 25mm | 25mm |
| 壓痕深度 | 30μm | 300 μm |
| 壓力 | 14.7N | 11Nm |
| 傳感器測(cè)試壽命 （大約） | 200,000 | 50,000 |
| zui小測(cè)試厚度 （鋼） | 1mm | 12mm |
| zui小測(cè)試半徑 | 5mm | 10mm |
| zui大表面粗糙度 | Ra 2.5 μm | Ra 3.2 μm |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 1000個(gè)測(cè)試值 | 100個(gè)測(cè)試值 |
| 測(cè)試時(shí)間 | 4秒 | 2秒 |
